光罩校正片、階高片設計及製作
AOI CALIBRATION TARGET / MASK / STEP HEIGHT PLATE
光罩校正片、階高片設計製作｜AOI標定板客製化方案
針對 AOI、機械視覺、半導體封裝測試、3D掃描、AR/VR、工業機器人與顯示影像校正需求，宸軒科技提供校正片、校正光罩、階高片、視覺標定板、灰階卡與色彩測試卡設計製作，協助建立穩定且可驗證的影像與量測基準。20年以上專業經驗AOI校正微米級精密加工2D/3D標定200+海內外客戶
提出校正片需求
寄送圖樣與設備規格
內容總結｜光罩校正片解決什麼問題？
光罩校正片、AOI校正片與標定板是影像系統建立座標基準、倍率比例、幾何校正與對位補償的核心工具。若校正基準不穩，即使相機、鏡頭與演算法規格很高，也可能出現量測偏差、影像變形或缺陷誤判。- 用途：AOI、機械視覺、半導體封裝測試、3D掃描、AR/VR、工業機器人、顯示器與影像校正。
- 核心優勢：支援棋盤格、圓點、線紋尺、階高、3D標定、灰階與色彩測試等多種校正基準。
- 選型結論：先確認相機視野、解析度、演算法、材料、精度與固定方式，再決定圖樣、尺寸、厚度與量測報告需求。
什麼是 AOI 校正片／校正光罩？
校正片（Calibration Target）、校正光罩（Calibration Mask）與標定板（Calibration Plate）用於建立影像系統的座標基準，常見功能包含幾何變形校正、像素比例校正、對位補償與系統一致性驗證。對 AOI 與半導體檢測而言，校正片會直接影響量測可信度、影像判讀準確性與設備重複性。 階高片與3D校正片則可用於高度差、Z軸、深度誤差、立體視覺與空間座標重建。宸軒科技可依相機視野、演算法、基板材料、設備介面與固定方式，協助評估校正圖樣、材料、尺寸與公差條件。
客戶常見痛點
01
影像比例與座標不一致
缺少穩定校正基準時，系統可能發生倍率誤差、座標偏移或演算法判定不一致。02
標定板與設備介面不合
尺寸、固定孔位、光源、支架或設備空間未同步評估，會增加導入與現場調整成本。03
精度與量測條件未定義
線寬、公差、材料、厚度與量測不確定度若未確認，後續驗收容易產生爭議。規格、材料與採購確認重點
以下依原頁資料整理為採購檢核表。測試、精度與第三方認證內容以核准規格、實際量測報告與適用條件為準。
| 項目 | 原頁資料與可評估方向 | 採購確認重點 |
|---|---|---|
| 產品類型 | AOI校正片、校正光罩、標定板、階高片、灰階卡、色彩測試卡 | 依影像校正、量測、2D/3D標定或色彩校正用途選擇 |
| 圖樣形式 | 棋盤格、圓點陣列、直線格點、十字定位、QR圖碼、多圖形、線紋尺 | 需確認相機解析度、視野、演算法與軟體格式 |
| 材料 | 光學玻璃、石英、陶瓷、不鏽鋼、FR4工程材料、特殊光學薄膜 | 依透光率、熱穩定、反射率、清潔方式與設備環境評估 |
| 精度方向 | 原頁資料：超高精度±1um、高精度±5um、標準精度±10-20um | 精度會受尺寸、厚度、圖形、材料與量測條件影響 |
| 3D校正片案例 | 原頁案例：線縫長寬公差±10um、高度公差±5um；厚度2.3mm範例 | 不同厚度與尺寸需另行與技術人員確認 |
| 菲林片貼合 | 原頁資料：0.1um-5um，材料可為玻璃加光學白膜貼合 | 精度會因尺寸大小變異，正式以核准規格為準 |
| 認證與量測 | 可協助配合第三方認證，如SGS台灣檢驗科技或工研院 | 量測不確定度以第三方單位定義為主 |
資料下載與規格參考
產品類型與應用
| 類型 | 功能 | 適用場景 |
|---|---|---|
| 棋盤格校正片 | 倍率、畸變與座標校正 | OpenCV、Halcon、AOI與機械視覺平台 |
| 圓點校正片 | 點位辨識、中心定位與幾何校正 | 高解析視覺、定位補償、量測設備 |
| 階高片／3D校正片 | Z軸、高度差與深度誤差校正 | 3D掃描、ToF、立體視覺、半導體檢測 |
| 玻璃線紋尺／解析度板 | 解析度、比例尺與線寬量測 | 鏡頭解析、光學量測、設備驗證 |
| 灰階卡／色彩測試卡 | 亮度、對比、色彩與光源一致性校正 | 顯示器、攝影、AOI影像與工業檢測 |