光罩校正片、階高片設計及製作

AOI CALIBRATION TARGET / MASK / STEP HEIGHT PLATE

光罩校正片、階高片設計製作｜AOI標定板客製化方案

針對 AOI、機械視覺、半導體封裝測試、3D掃描、AR/VR、工業機器人與顯示影像校正需求，宸軒科技提供校正片、校正光罩、階高片、視覺標定板、灰階卡與色彩測試卡設計製作，協助建立穩定且可驗證的影像與量測基準。

20年以上專業經驗AOI校正微米級精密加工2D/3D標定200+海內外客戶

提出校正片需求寄送圖樣與設備規格

內容總結｜光罩校正片解決什麼問題？

光罩校正片、AOI校正片與標定板是影像系統建立座標基準、倍率比例、幾何校正與對位補償的核心工具。若校正基準不穩，即使相機、鏡頭與演算法規格很高，也可能出現量測偏差、影像變形或缺陷誤判。

用途：AOI、機械視覺、半導體封裝測試、3D掃描、AR/VR、工業機器人、顯示器與影像校正。
核心優勢：支援棋盤格、圓點、線紋尺、階高、3D標定、灰階與色彩測試等多種校正基準。
選型結論：先確認相機視野、解析度、演算法、材料、精度與固定方式，再決定圖樣、尺寸、厚度與量測報告需求。

什麼是 AOI 校正片／校正光罩？

校正片（Calibration Target）、校正光罩（Calibration Mask）與標定板（Calibration Plate）用於建立影像系統的座標基準，常見功能包含幾何變形校正、像素比例校正、對位補償與系統一致性驗證。對 AOI 與半導體檢測而言，校正片會直接影響量測可信度、影像判讀準確性與設備重複性。

階高片與3D校正片則可用於高度差、Z軸、深度誤差、立體視覺與空間座標重建。宸軒科技可依相機視野、演算法、基板材料、設備介面與固定方式，協助評估校正圖樣、材料、尺寸與公差條件。

客戶常見痛點

影像比例與座標不一致

缺少穩定校正基準時，系統可能發生倍率誤差、座標偏移或演算法判定不一致。

標定板與設備介面不合

尺寸、固定孔位、光源、支架或設備空間未同步評估，會增加導入與現場調整成本。

精度與量測條件未定義

線寬、公差、材料、厚度與量測不確定度若未確認，後續驗收容易產生爭議。

規格、材料與採購確認重點

以下依原頁資料整理為採購檢核表。測試、精度與第三方認證內容以核准規格、實際量測報告與適用條件為準。

項目	原頁資料與可評估方向	採購確認重點
產品類型	AOI校正片、校正光罩、標定板、階高片、灰階卡、色彩測試卡	依影像校正、量測、2D/3D標定或色彩校正用途選擇
圖樣形式	棋盤格、圓點陣列、直線格點、十字定位、QR圖碼、多圖形、線紋尺	需確認相機解析度、視野、演算法與軟體格式
材料	光學玻璃、石英、陶瓷、不鏽鋼、FR4工程材料、特殊光學薄膜	依透光率、熱穩定、反射率、清潔方式與設備環境評估
精度方向	原頁資料：超高精度±1um、高精度±5um、標準精度±10-20um	精度會受尺寸、厚度、圖形、材料與量測條件影響
3D校正片案例	原頁案例：線縫長寬公差±10um、高度公差±5um；厚度2.3mm範例	不同厚度與尺寸需另行與技術人員確認
菲林片貼合	原頁資料：0.1um-5um，材料可為玻璃加光學白膜貼合	精度會因尺寸大小變異，正式以核准規格為準
認證與量測	可協助配合第三方認證，如SGS台灣檢驗科技或工研院	量測不確定度以第三方單位定義為主

資料下載與規格參考

產品類型與應用

類型	功能	適用場景
棋盤格校正片	倍率、畸變與座標校正	OpenCV、Halcon、AOI與機械視覺平台
圓點校正片	點位辨識、中心定位與幾何校正	高解析視覺、定位補償、量測設備
階高片／3D校正片	Z軸、高度差與深度誤差校正	3D掃描、ToF、立體視覺、半導體檢測
玻璃線紋尺／解析度板	解析度、比例尺與線寬量測	鏡頭解析、光學量測、設備驗證
灰階卡／色彩測試卡	亮度、對比、色彩與光源一致性校正	顯示器、攝影、AOI影像與工業檢測