PRECISION METROLOGY & 3D CALIBRATION ARTIFACT
3D光罩/塊規/階高片/塊校正片｜SGS 第三方量測驗證
宸軒科技提供 3D 光罩、陶瓷塊規、階高片與塊校正片客製化設計製作，協助 CMM、3D 輪廓、白光干涉、共焦、AOI 與自動化量測設備建立可驗收、可追溯的高度基準。SGS 第三方量測ZEISS CMM CONTURA 2020五段高度設計精密加工能力客製化整合
取得客製評估
寄送圖面與量測需求
內容總結｜3D階高校正片解決什麼問題？
3D光罩/塊規/階高片/塊校正片可用於設備驗收、日常點檢、Z 軸高度比對與跨部門量測判定。本案以 SGS Taiwan 第三方量測報告作為資料依據，指定樣品五個測點器差皆落在 ±0.5 μm 內。- 核心用途：CMM、3D 輪廓、白光干涉、共焦、AOI 與自動化量測設備高度校正。
- 選型重點：名目高度、段數、材料、尺寸、測點位置、表面條件與報告需求。
- 宸軒方案：依設備量測原理、使用環境與驗收條件評估可製作規格，實際規格以核准圖面與量測資料為準。
什麼是 3D光罩/塊規/階高片/塊校正片？
此類標準件用於建立高度、段差與 Z 軸方向的量測基準。當設備需要確認讀值是否穩定、不同量測方法是否一致，或客戶稽核需要可追溯資料時，階高塊校正片能把抽象的設備精度轉成可實際量測、可留存紀錄的實體基準。 對採購與工程端而言，重點不只是「做出一個塊規」，而是要讓尺寸、材料、表面、測點、報告與驗收方式都能對應實際設備條件。工程提醒：本頁量測數值為指定受測樣品結果，不代表所有客製品無條件套用相同器差。正式規格以核准圖面、量測報告與雙方確認的驗收方法為準。
客戶常見痛點與宸軒解決方案
01
設備驗收缺少共同基準
用同一件階高標準件做量測比對，讓設備商、品保與使用單位有一致判定依據。02
長期漂移不易察覺
搭配定期點檢紀錄，可協助觀察 Z 軸、高度讀值與量測程式是否出現變化。03
客製標準件難以驗收
可依階高、尺寸、材料、測點與第三方報告需求，規劃可製作且可驗收的方案。SGS 第三方量測報告
以下呈現 SGS Taiwan 量測報告重點頁，圖片可點擊放大查看。第一頁確認申請者、量測日期、環境條件、ZEISS CMM CONTURA 2020 與追溯資訊；第二頁列出五段高度的標稱值、量測值與器差值。
五段高度量測結果
| 標稱值 | SGS 量測值 | 器差值 | 判讀 |
|---|---|---|---|
| 5.000 mm | 5.0001 mm | +0.1 μm | 落在 ±0.5 μm 內 |
| 5.005 mm | 5.0047 mm | -0.3 μm | 落在 ±0.5 μm 內 |
| 5.020 mm | 5.0200 mm | 0.0 μm | 落在 ±0.5 μm 內 |
| 5.050 mm | 5.0495 mm | -0.5 μm | 落在 ±0.5 μm 內 |
| 5.100 mm | 5.1001 mm | +0.1 μm | 落在 ±0.5 μm 內 |
器差值為量測值減標稱值；SGS 報告所列擴充不確定度與判定方式仍需一併閱讀。
產品實拍與第三方量測標示
規格與客製選型
| 選型項目 | 建議提供資料 | 採購與工程檢核重點 |
|---|---|---|
| 階高範圍 | 名目高度、段數、每段寬度、測點位置與容許誤差。 | 確認是否符合設備 Z 軸量測能力與驗收需求。 |
| 尺寸與外形 | 長寬厚、倒角、定位邊、取放方向與治具介面。 | 確保可穩定放入載台、治具或自動化流程。 |
| 材料與表面 | 陶瓷、玻璃、金屬或其他材料需求，以及反射、清潔與耐磨條件。 | 對應接觸式或非接觸式量測設備的使用環境。 |
| 量測方式 | CMM、3D 輪廓、白光干涉、共焦、AOI 或其他設備型號。 | 選擇合適的測點、報告與判定方式。 |
| 交付資料 | 核准圖面、量測報告、照片、包裝標示與出貨需求。 | 支援採購驗收、品質追溯與客戶稽核。 |
客製流程
需求確認
確認設備用途、階高範圍、測點與驗收目標。設計選材
規劃尺寸、材料、表面、標示與治具介面。打樣量測
依核准圖面製作，並確認量測方式與報告內容。交付追溯
提供產品、照片、包裝標示與必要量測資料。為什麼選擇宸軒科技？
20+
年專業經驗
整合精密加工、半導體載具與自動化介面經驗。200+
家海內外客戶
具備服務國際級客戶與多規格客製專案的實績。1-Stop