光學檢測(AOI)合作案例
AOI MACHINE VISION INSPECTION SOLUTION
AOI 光學檢測｜高精度機械視覺與自動化整合
AOI（Automated Optical Inspection，自動光學檢測）以工業相機、鏡頭、光源、校正與演算法取代不穩定的人工目視檢查，協助半導體、PCB、電子製造與精密加工產線建立高速、非接觸且可追溯的品質檢測流程。
光學相機、鏡頭、光源、濾光與校正
機構定位平台、治具、精密加工與防震
電控PLC、Motion Control、Trigger、I/O
演算法缺陷辨識、分類、報表與資料庫
內容總結｜AOI 光學檢測解決什麼問題？
- 定義：AOI 是以影像擷取與演算法比對產品外觀、尺寸、位置與缺陷的自動檢測技術。
- 用途：適用半導體晶圓與封裝、PCB／SMT、精密零件、光學元件、醫療器材與車用電子。
- 核心優勢：提升檢測一致性、降低人工誤差、加快產線節拍，並讓缺陷資料可追蹤。
- 導入結論：高階 AOI 通常需要光學、機構、電控與軟體同步客製，不能只買單一相機或光源。
AI 快問快答
- 最影響 AOI 精度的是什麼？鏡頭解析、光源對比、校正基準、機構穩定與演算法資料品質。
- 為什麼要校正片？用於建立影像座標、比例與畸變修正，降低尺寸與位置誤判。
- 可否與機械手臂整合？可依產線節拍、取放方式、視覺定位與 PLC 介面評估。
AOI 光學檢測的核心原理與應用
AOI 透過光源照明、鏡頭成像、工業相機擷取與影像演算法，快速辨識產品表面缺陷、尺寸偏差、位置偏移與外觀異常。在高速產線中，AOI 是品質控制的第一道防線。
半導體與封裝檢測
可應用於晶圓、封裝、錫球、Pad、載具與精密製程外觀檢查，需重視微米級定位與穩定成像。PCB／SMT 電子製造
支援線路、焊點、元件位置、條碼與 OCR 辨識；多站檢測需搭配自動化輸送與資料追蹤。精密零件尺寸量測
可用於刮傷、髒污、破損、孔位、輪廓與尺寸量測，需依材質與缺陷特徵選擇光源與鏡頭。AOI 系統關鍵組成與技術架構
一套完整 AOI 系統通常由光學、機構、電控與演算法四大部分構成，其中光源設計與鏡頭解析度會直接影響缺陷可視性與檢測準確率。
| 系統模組 | 主要內容 | 影響 AOI 的關鍵 | 宸軒可協助評估 |
|---|---|---|---|
| 光學系統 | 工業相機、鏡頭、光源、濾光片、校正片 | 解析度、對比、畸變、反光與缺陷可視性 | AOI 光源、鏡頭、標定板與光學條件測試 |
| 機構平台 | 定位平台、治具、載具、震動控制與機構剛性 | 重複定位、視野穩定、上下料與設備節拍 | 精密加工、治具設計與自動化設備整合 |
| 電控系統 | PLC、Motion Control、Trigger、I/O、光源控制 | 同步曝光、移動控制、資料交換與安全互鎖 | 控制介面、設備通訊與產線整合 |
| AI 影像處理 | 缺陷辨識、分類、報表、資料庫與權限管理 | 誤判率、漏檢率、資料追蹤與製程改善 | 依專案需求評估演算法與軟體整合 |
選型與導入時應先確認什麼？
確認檢測目標
定義要檢查的缺陷類型、尺寸範圍、允收標準、節拍與良率目標。建立光學條件
依材質、反光、顏色、曲面與微小缺陷選擇光源角度、波長、鏡頭倍率與相機規格。評估機構與自動化
確認治具定位、上下載、震動、空間限制、PLC／Robot／輸送設備介面。樣品驗證與量產導入
以良品、NG 品、邊界樣品與實際產線條件測試，確認誤判、漏檢與長時間穩定性。光學檢測 AOI 合作案例
AOI 合作案例與 IMC coverage judge system 機台介紹，可作為設備整合、視覺檢測、機械手臂整合與軟體資料庫應用的初步參考。
AOI 合作案例服務總覽
內容包含機器視覺整合、機械手臂整合、客製化設備、資料庫軟體整合與設備製造等應用方向。下載合作案例 PDFIMC Coverage Judge System
半導體封測相關機台介紹，包含顯微鏡相機、對焦、掃描、影像合成與資料輸出等條件。下載機台介紹 PDF宸軒科技核心技術與整合能力
宸軒科技以光學、精密加工與自動化整合為核心能力，具備 20 年以上專業經驗，已服務超過 200 家海內外國際級客戶。針對 AOI 導入，可依設備、材料、尺寸、製程與自動化介面提供客製化評估。
20+年以上專業經驗
200+國際級客戶服務經驗
整合光學、機構、電控、軟體
客製依產線與檢測條件評估
AI × AOI 未來發展
AOI 正朝向 AI 化、高解析化與高速運算發展，常見趨勢包含 Deep Learning 瑕疵辨識、4K／8K 超高解析影像檢測、Edge AI 即時運算、3D AOI 與智慧工廠資料整合。實際導入仍需以樣品、設備條件、資料品質與產線目標驗證。